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“东莞华测仪器冷热冲击试验箱HC-I-50A，2年质保”参数说明
| 认证： | HUACE/华测 | 品牌： | HUACE/华测 |
| 加工定制： | 是 | 材质： | 内箱304#不锈钢，外箱304#不锈钢或 |
| 温度范围： | -50℃~200℃ | 测量范围： | -50℃~200℃ |
| 工作室尺寸： | 350×400×360（W×D×H）mm | 测量对象： | 五金、塑料、电子、汽车零部件、家电 |
| 重量： | 400KG | 型号： | HC-A-50A |
| 商标： | 华测 | 包装： | 木箱 |
| 产量： | 100 |
“东莞华测仪器冷热冲击试验箱HC-I-50A，2年质保”详细介绍
一、参考试验标准及测试方法
1.GJB 150.5A-2009温度冲击试验
2.GJB 360B-2009温度冲击试验
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
二、设备主要功能
用于测试各类电子电工产品、零部件、材料等在快速的经过极高温和极低温的热胀冷缩引起的化学和物理变化对其造成的损伤，模拟其环境变化，检验其可靠性和稳定性，找出缺陷，以便改进
三、设备规格
3.1.设备名称 三箱式冷热冲击试验箱
3.2.设备型号 HC-I-50A
3.3.试样限制 本试验设备禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验及储存,腐蚀性物质试样的试验、储存,生物的试验、储存,强电磁发射源试样的试验及储存。
3.4.容积、重量和尺寸
3.4.1.标称内容积 50 L
3.4.2.内箱有效尺寸 350×400×360 W×H×D（mm）
3.4.3.外形空间 约1400×1800×1600 W×H×D（mm）
3.4.4.重量 500㎏
3.4.5.噪音 75db以内（离机台正面1米并离地面1.2米处测量）
3.5.电源电压及功率
3.5.1.最大功率 20KW
3.5.2.最大电流 24A
3.5.3.供电条件和电源
AC380V三相四线 +保护接地；电压允许波动范围：±10%V；频率允许波动范围：（50±0.5）ＨZ；TN-S方式供电或TT方式供电；保护地线接地电阻小于4Ω
要求用户在安装现场为设备配置相应容量的空气或动力开关，并且此开关必须独立控制本设备使用
3.6.功能要求 2.6.1.（空气）室内空间制冷、加热；
3.6.2.根据温度设定，室内空间达到设定温度
3.6.3.分为储热区、储冷区、试验区三个部分
3.6.4、三个区独立，通过风门切换温度
四、设备性能参数
4.1.温度范围 4.1.1.高温区温度范围：RT～220℃
4.1.2.低温区温度范围：RT～-55℃
4.1.3.测试区温度范围：-50～200℃
4.2.温度冲击范围 4.2.1.高温： 60℃～200℃
4.2.2.低温： -10℃～-50℃
4.2.3.常温：室内温度
4.3.测试条件（可设两箱或三箱冲击模式） 4.3.1.三相冲击模式：
高温冲击：60℃～200℃，测试时间30min～99h可任意调节
常温冲击：5min～99h可任意调节
低温冲击： -10℃～-50℃，测试时间30min～99h可任意调节
4.3.2.二箱冲击模式
高温冲击：60℃～200℃，测试时间30min～99h可任意调节
低温冲击：-10℃～-40℃，测试时间30min～99h可任意调节
4.4.控制精度 4.4.1.解析精度：0.1℃
4.4.2.温度波动度：±1℃
4.4.3.分布均匀度：±3.0℃
4.4.4.温度偏差：±2℃
4.5.开机储冷时间 RT→-55℃≤50min
4.6.开机储热时间 RT→200℃≤35min
4.7.温度恢复时间 4.7.1.风门打开时间：5秒以内
4.7.2.测试区温度恢复稳定时间: 10分钟.
4.7.3.冲击过程（如图所示）
绿色为高温区储热曲线 红色为实验区冲击曲线 蓝色为低温区储冷曲线
1.GJB 150.5A-2009温度冲击试验
2.GJB 360B-2009温度冲击试验
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
二、设备主要功能
用于测试各类电子电工产品、零部件、材料等在快速的经过极高温和极低温的热胀冷缩引起的化学和物理变化对其造成的损伤，模拟其环境变化，检验其可靠性和稳定性，找出缺陷，以便改进
三、设备规格
3.1.设备名称 三箱式冷热冲击试验箱
3.2.设备型号 HC-I-50A
3.3.试样限制 本试验设备禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验及储存,腐蚀性物质试样的试验、储存,生物的试验、储存,强电磁发射源试样的试验及储存。
3.4.容积、重量和尺寸
3.4.1.标称内容积 50 L
3.4.2.内箱有效尺寸 350×400×360 W×H×D（mm）
3.4.3.外形空间 约1400×1800×1600 W×H×D（mm）
3.4.4.重量 500㎏
3.4.5.噪音 75db以内（离机台正面1米并离地面1.2米处测量）
3.5.电源电压及功率
3.5.1.最大功率 20KW
3.5.2.最大电流 24A
3.5.3.供电条件和电源
AC380V三相四线 +保护接地；电压允许波动范围：±10%V；频率允许波动范围：（50±0.5）ＨZ；TN-S方式供电或TT方式供电；保护地线接地电阻小于4Ω
要求用户在安装现场为设备配置相应容量的空气或动力开关，并且此开关必须独立控制本设备使用
3.6.功能要求 2.6.1.（空气）室内空间制冷、加热；
3.6.2.根据温度设定，室内空间达到设定温度
3.6.3.分为储热区、储冷区、试验区三个部分
3.6.4、三个区独立，通过风门切换温度
四、设备性能参数
4.1.温度范围 4.1.1.高温区温度范围：RT～220℃
4.1.2.低温区温度范围：RT～-55℃
4.1.3.测试区温度范围：-50～200℃
4.2.温度冲击范围 4.2.1.高温： 60℃～200℃
4.2.2.低温： -10℃～-50℃
4.2.3.常温：室内温度
4.3.测试条件（可设两箱或三箱冲击模式） 4.3.1.三相冲击模式：
高温冲击：60℃～200℃，测试时间30min～99h可任意调节
常温冲击：5min～99h可任意调节
低温冲击： -10℃～-50℃，测试时间30min～99h可任意调节
4.3.2.二箱冲击模式
高温冲击：60℃～200℃，测试时间30min～99h可任意调节
低温冲击：-10℃～-40℃，测试时间30min～99h可任意调节
4.4.控制精度 4.4.1.解析精度：0.1℃
4.4.2.温度波动度：±1℃
4.4.3.分布均匀度：±3.0℃
4.4.4.温度偏差：±2℃
4.5.开机储冷时间 RT→-55℃≤50min
4.6.开机储热时间 RT→200℃≤35min
4.7.温度恢复时间 4.7.1.风门打开时间：5秒以内
4.7.2.测试区温度恢复稳定时间: 10分钟.
4.7.3.冲击过程（如图所示）
绿色为高温区储热曲线 红色为实验区冲击曲线 蓝色为低温区储冷曲线
